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Autoren:
Weber, Johannes 
Dokumenttyp:
Dissertation / Thesis 
Titel:
Pulsed High Current Characterization of Highly Integrated Circuits and Systems 
Betreuer:
Maurer, Linus, Prof. Dr. techn. 
Gutachter:
Maurer, Linus, Prof. Dr. techn.; Weigel, Robert, Prof. Dr.-Ing. Dr.-Ing. habil. 
Tag der mündlichen Prüfung:
25.07.2019 
Verlegende Institution:
Universität der Bundeswehr München 
Publikationsdatum:
12.11.2019 
Jahr:
2019 
Seiten (Monografie):
122 
Sprache:
Englisch 
Schlagwörter:
Integrierte Schaltung ; Halbleiterbauelement ; Stromausfall ; Empfindlichkeit ; Experiment ; Hochschulschrift 
Stichwörter:
ESD, CDM, CC-TLP, rise time, slew rate 
Abstract:
The Charged Device Model (CDM) describes the primary cause for Electrostatic Discharge (ESD) failures in manufacturing and automatic handling. The CDM test method is the standardized procedure used worldwide to characterize the susceptibility of a device to damage from ESD under CDM conditions. Prevailing trends in the semiconductor industry like technology scaling towards the deep sub-10-nm regime or the steady increase in data rates in high-speed IOs (> 50Gbps) have come at the expense of degr...    »
 
DDC-Notation:
621.3815 
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik 
Institut:
EIT 4 - Institut für Mikroelektronik und Schaltungstechnik 
Professur:
Maurer, Linus 
Open Access ja oder nein?:
Ja / Yes