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Autoren:
Ammer, Michael Johannes 
Dokumenttyp:
Dissertation / Thesis 
Titel:
A Methodology to Generate Transient Behavioral Models of Complete ICs out of Design Data for ESD and Electrical Stress Simulation on System Level 
Betreuer:
Maurer, Linus, Univ.-Prof. Dr. 
Gutachter:
Maurer, Linus, Univ.-Prof. Dr.; Sauter, Martin, Prof. Dr.; Deutschmann, Bernd, Univ.-Prof. Dr. 
Tag der mündlichen Prüfung:
16.10.2020 
Publikationsdatum:
10.12.2020 
Jahr:
2020 
Seiten (Monografie):
138 
Sprache:
Englisch 
Schlagwörter:
Datenverarbeitungssystem ; Elektrostatische Entladung ; Ausgleichsvorgang ; Integrierte Schaltung ; Robustheit ; Optimierung ; Systemanalyse ; Modell ; Simulation ; Hochschulschrift 
Stichwörter:
Electrostatic discharge, integrated circuit (IC) modeling, robustness, system analysis and design, system improvement, system-level design, system testing, system validation, systems modeling, systems simulation 
Abstract:
Designing electronic (sub-)systems to be robust against ESD events is still not an easy task and a standard approach is not yet available. Accurate high frequency and high current models of all involved components are necessary to get precise system ESD simulation results, which help to optimize the ESD robustness of (sub-)systems. Often, the most critical devices in this context are ICs. There are typically no adequate IC ESD models available. A lot of requirements exist for such models: on the...    »
 
DDC-Notation:
621.395 
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik 
Institut:
EIT 4 - Institut für Mikroelektronik und Schaltungstechnik 
Professur:
Maurer, Linus 
Open Access ja oder nein?:
Ja / Yes