Login
Document type:
Zeitschriftenartikel / Journal Article
Title:
Transient analysis of latent damage formation in SMD capacitors by Transmission Line Pulsing (TLP)
Journal:
Microelectronics Reliability
Issue:
76–77
Year:
2017
Pages from - to:
97–101
Language:
Englisch
Keywords:
Latent defects ; Latent failure ; Defect generation ; Transient characterisation ; Transmission line pulsing ; TLP ; SMD capacitors ; Dielectric breakdown ; Electrical overstress ; EOS
Department:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institute:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Chair:
Groos, Gerhard
Open Access yes or no?:
Nein / No
BibTeX