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Authors:
Ammer, Michael; Esmark, Kai; zur Nieden, Friedrich; Rupp, Andreas; Cao, Yiqun; Sauter, Martin; Maurer, Linus 
Document type:
Konferenzbeitrag / Conference Paper 
Title:
Simulation of System Level ESD robustness using advanced behavioral IC models under consideration of PCB parasitics 
Conference title:
Electro Static Discharge Forum (15., 2017, München) 
Conference title:
15. ESD-Forum, München, 25. Oktober 2017 
Venue:
München 
Year of conference:
2017 
Date of conference beginning:
23.10.2017 
Date of conference ending:
25.10.2017 
Year:
2017 
Language:
Englisch 
Department:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik 
Institute:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik 
Chair:
Sauter, Martin 
Open Access yes or no?:
Nein / No