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Dokumenttyp:
Zeitschriftenartikel / Journal Article
Titel:
Simulation and modelling of VDMOSFET self protection under TLP-stress
Zeitschrift:
Microelectronics Reliability
Jahrgang:
50
Heftnummer:
2
Jahr:
2010
Seiten von - bis:
183-189
Sprache:
Englisch
URL zum Inhalt:
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Professur:
Sauter, Martin
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
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