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Document type:
Zeitschriftenartikel / Journal Article
Title:
Identification of Soft Failure Mechanisms Triggered by ESD Stress on a Powered USB 3.0 Interface
Journal:
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
Volume:
61
Issue:
1
Year:
2019
Pages from - to:
20 - 28
Language:
Englisch
ISSN:
0018-9375 ; 1558-187X
Department:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Institute:
EIT 4 - Institut für Mikroelektronik und Schaltungstechnik
Chair:
Maurer, Linus
Open Access yes or no?:
Nein / No
Miscellaneous:
Date of Publication: 12 June 2018
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