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Autoren:
Bergmaier, Andreas; Dollinger, Günther; Faestermann, Thomas; Frey, C. M.; Dworschak, W.; Ehrhardt, H. 
Dokumenttyp:
Zeitschriftenartikel / Journal Article 
Titel:
Elemental composition of thin c-BN layers 
Zeitschrift:
Diamond and Related Materials 
Jahrgang:
Heftnummer:
Jahr:
1995 
Seiten von - bis:
478-481 
Sprache:
Englisch 
Stichwörter:
BN phases ; Cubic boron nitride ; Elastic recoil detection ; High resolution depth profiling 
Abstract:
Some experiments on the growth of cubic boron nitride (c-BN) show that the content of c-BN in BN films depends on the film thickness. Non-cubic phases, such as amorphous and hexagonal BN, can be identified, particularly near the substrate. To understand these phase variations, elemental depth profiles of thin BN films were measured by high resolution elastic recoil detection (ERD). BN films have been prepared by r.f. glow discharge (r. 
ISSN:
0925-9635 
Fakultät:
Fakultät für Luft- und Raumfahrttechnik 
Institut:
LRT 2 - Institut für angewandte Physik und Messtechnik 
Professur:
Dollinger, Günther 
Open Access ja oder nein?:
Nein / No