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Autoren:
Bscheid, Christian; Engst, Christian R.; Eisele, Ignaz; Kutter, Christoph
Dokumenttyp:
Zeitschriftenartikel / Journal Article
Titel:
Minority Carrier Lifetime Measurements for Contactless Oxidation Process Characterization and Furnace Profiling
Zeitschrift:
Materials
Jahrgang:
12
Heftnummer:
1
Jahr:
2019
Sprache:
Englisch
Stichwörter:
lifetime ; high-resistivity ; float zone ; furnace profiling ; oxide characterization
Article-ID:
190
DOI:
10.3390/ma12010190
URL zum Inhalt:
https://doi.org/10.3390/ma12010190
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Institut:
EIT 2 - Institut für Physik
Professur:
Eisele, Ignaz
Open Access ja oder nein?:
Ja / Yes
BibTeX
Vorkommen:
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