Login
Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Titel:
Impact of Device Scaling on VCOs Phase Noise in SiGe HBTs
Titel Konferenzpublikation:
2005 International Semiconductor Device Research Symposium
Konferenztitel:
International Semiconductor Device Research Symposium (2005, Bethesda, MD)
Tagungsort:
Bethesda, MD, USA
Jahr der Konferenz:
2005
Datum Beginn der Konferenz:
07.12.2005
Datum Ende der Konferenz:
09.12.2005
Verlag:
IEEE
Jahr:
2005
Sprache:
Englisch
ISBN:
1-4244-0083-X
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
BibTeX