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Dokumenttyp:
Zeitschriftenartikel / Journal Article
Titel:
Identification of Soft Failure Mechanisms Triggered by ESD Stress on a Powered USB 3.0 Interface
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
Jahrgang:
61
Heftnummer:
1
Jahr:
2019
Seiten von - bis:
20 - 28
Sprache:
Englisch
ISSN:
0018-9375 ; 1558-187X
URL zum Inhalt:
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Institut:
EIT 4 - Institut für Mikroelektronik und Schaltungstechnik
Professur:
Maurer, Linus
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
Sonstige Angaben:
Date of Publication: 12 June 2018
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