Universität der Bundeswehr München: AtheneForschung
Benutzer: Gast
 
Login
de
en
Erweiterte Suche
Home / Alle Inhalte
Publikationen (Universitätsbibliografie)
Fakultäten (univ.)
(21979)
Fakultät für Bauingenieurwesen und Umweltwissenschaften
(3695)
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
(2062)
Fakultät für Humanwissenschaften
(2300)
Fakultät für Informatik
(3323)
Fakultät für Luft- und Raumfahrttechnik
(5343)
Fakultät für Staats- und Sozialwissenschaften
(2698)
Fakultät für Wirtschafts- und Organisationswissenschaften
(2583)
Fakultäten (HAW)
(1751)
Forschungszentren und -initiativen
(2061)
Weitere Einrichtungen
(17)
Projekte
Elektronische Prüfungsarbeiten
Open-Access-Publikationen
Patente
Forschungsdaten
Forschungsprofile
Videos für die UniBw M-Webseite
Digitalisierte Medien
AG E-Learning
Materialien der Universitätsbibliothek
Home / Alle Inhalte
Publikationen (Universitätsbibliografie)
Fakultäten (univ.)
Zurück
Zurück zum Anfang der Trefferliste
Dauerhafter Link zum angezeigten Objekt
Autoren:
Hirler, Alexander
Dokumenttyp:
Dissertation / Thesis
Titel:
New approaches to reliability qualification of semiconductor components under varying and progressive stresses
Betreuer:
Hansch, Walter, Univ.-Prof. Dr.-Ing.
Gutachter:
Hansch, Walter, Univ.-Prof. Dr.-Ing. ; Marquardt, Rainer, Univ.-Prof. Dr.-Ing.
Tag der Abgabe der Arbeit:
14.01.2021
Tag der mündlichen Prüfung:
28.06.2021
Verlagsort:
Göttingen
Verlag:
Cuvillier Verlag
Jahr:
2021
Seiten (Monografie):
vi, 152
Sprache:
Englisch
ISBN:
978-3-7369-7520-0 ; 978-3-7369-6520-1
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Institut:
EIT 2 - Institut für Physik
Professur:
Hansch, Walter
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
Sonstige Angaben:
Dissertation an der Universität der Bundeswehr München
BibTeX
Vorkommen:
Home / Alle Inhalte
Publikationen (Universitätsbibliografie)
Fakultäten (univ.)
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
EIT 2 - Institut für Physik