Login
Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Titel:
Impact of Device Scaling on Phase Noise in SiGe HBTs UWB VCOs
Titel Konferenzpublikation:
2006 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest
Konferenztitel:
IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest (2006, San Francisco, CA)
Tagungsort:
San Francisco, CA, USA
Jahr der Konferenz:
2006
Datum Beginn der Konferenz:
11.06.2006
Datum Ende der Konferenz:
16.06.2006
Verlag:
IEEE
Jahr:
2006
Sprache:
Englisch
ISBN:
0-7803-9541-7
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
BibTeX