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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Titel:
Predicting system level ESD robustness using a comprehensive modelling approach
Titel Konferenzpublikation:
Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium Proceedings
Konferenztitel:
Annual Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (40., 2018, Reno)
Tagungsort:
Reno
Jahr der Konferenz:
2018
Datum Beginn der Konferenz:
23.09.2018
Datum Ende der Konferenz:
28.09.2018
Jahr:
2018
Sprache:
Englisch
ISBN:
1585373028
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Institut:
EIT 4 - Institut für Mikroelektronik und Schaltungstechnik
Professur:
Maurer, Linus
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
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