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Document type:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Title:
Predicting system level ESD robustness using a comprehensive modelling approach
Title of conference publication:
Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium Proceedings
Conference title:
Annual Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (40., 2018, Reno)
Venue:
Reno
Year of conference:
2018
Date of conference beginning:
23.09.2018
Date of conference ending:
28.09.2018
Year:
2018
Language:
Englisch
ISBN:
1585373028
Department:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Institute:
EIT 4 - Institut für Mikroelektronik und Schaltungstechnik
Chair:
Maurer, Linus
Open Access yes or no?:
Nein / No
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