Universität der Bundeswehr München: AtheneForschung
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Autoren:
Pogany, Dionýz; Dubec, Viktor; Bychikhin, Sergey; Fürböck, Christoph; Litzenberger, Martin; Naumov, S.; Groos, Gerhard; Stecher, Matthias; Gornik, Erich
Dokumenttyp:
Zeitschriftenartikel / Journal Article
Titel:
Single-shot nanosecond thermal imaging of semiconductor devices using absorption measurements
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
Jahrgang:
3
Heftnummer:
3
Jahr:
2003
Seiten von - bis:
85-88
Sprache:
Englisch
ISSN:
1530-4388 ; 1558-2574
DOI:
10.1109/TDMR.2003.815276
URL zum Inhalt:
https://doi.org/10.1109/TDMR.2003.815276
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Professur:
Groos, Gerhard
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
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Vorkommen:
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