Universität der Bundeswehr München: AtheneForschung
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Autoren:
Dubec, Viktor; Bychikhin, Sergey; Blaho, Matej; Heer, Michael; Pogany, Dionýz; Denison, Marie; Jensen, Nils; Stecher, Matthias; Groos, Gerhard; Gornik, Erich
Dokumenttyp:
Zeitschriftenartikel / Journal Article
Titel:
Multiple-time-instant 2D thermal mapping during a single ESD event
Zeitschrift:
Microelectronics Reliability
Jahrgang:
44
Heftnummer:
9
Jahr:
2004
Seiten von - bis:
1793-1798
Sprache:
Englisch
DOI:
10.1016/j.microrel.2004.07.087
URL zum Inhalt:
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2004.07.087
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Professur:
Groos, Gerhard
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
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Vorkommen:
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