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Autoren:
Riedl, Martin; Schuster, Johann; Siegle, Markus; Blum, M.; Schiller, F. 
Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper 
Titel:
Dependability model transformation 
Untertitel:
a stochastic process algebra semantics for ZuverSicht models 
Herausgeber Sammlung:
Ale, Ben J. M.; Papazoglou, Ioannis A.; Zio, Enrico 
Titel Konferenzpublikation:
Reliability, Risk and Safety 
Untertitel Konferenzpublikation:
Back to the Future ; ESREL (European Safety and Reliability) ... annual conference, Island of Rhodes 
Konferenztitel:
European Safety & Reliability Annual Conference (2010, Rhodos) 
Tagungsort:
Rhodes 
Jahr der Konferenz:
2010 
Datum Beginn der Konferenz:
05.09.2010 
Datum Ende der Konferenz:
09.09.2010 
Verlagsort:
London 
Verlag:
CRC Press 
Jahr:
2010 
Seiten von - bis:
932-940 
Sprache:
Englisch 
ISBN:
0415604273 ; 978-0415604277 
Fakultät:
Fakultät für Informatik 
Institut:
INF 3 - Institut für Technische Informatik 
Professur:
Siegle, Markus 
Open Access ja oder nein?:
Nein / No