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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Titel:
An extended critical path method for complex assembly lines
Titel Sammlung:
IIE Annual Conference. Proceedings
Titel Konferenzpublikation:
62nd Annual Conference and Expo of the Institute of Industrial Engineers 2012
Untertitel Konferenzpublikation:
Proceedings of a meeting held 19-23 May 2012, Orlando, Florida, USA
Veranstalter (Körperschaft):
Institute of Industrial and Systems Engineers (IISE)
Konferenztitel:
IIE Annual Conference and Expo (62., 2012, Orlando, FL)
Tagungsort:
Orlando, Fla
Jahr der Konferenz:
2012
Datum Beginn der Konferenz:
19.05.2013
Datum Ende der Konferenz:
23.05.2013
Verlegende Institution:
Institute of Industrial Engineers ( IIE )
Jahr:
2012
Sprache:
Englisch
ISBN:
9781632663078
Fakultät:
Fakultät für Informatik
Institut:
INF 3 - Institut für Technische Informatik
Professur:
Rose, Oliver
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
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