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Authors:

Reggiani, Susanna; Gnani, Elena; Rudan, Massimo; Baccarani, Giogio; Corvasce, Chiara; Barlini, Davide; Ciappa, Mauro; Fichtner, Wolfgang; Denison, Marie; Jensen, Nils; Groos, Gerhard; Stecher, Matthias

Document type:

Zeitschriftenartikel / Journal Article

Title:

Measurement and Modeling of the Electron Impact-Ionization Coefficient in Silicon Up to Very High Temperatures

Journal:

IEEE Transactions on Electron Devices

Volume:

Issue:

Year:

2005

Pages from - to:

2290-2299

Language:

Englisch

ISSN:

0018-9383 ; 1557-9646

DOI:

10.1109/TED.2005.856807

URL:

https://doi.org/10.1109/TED.2005.856807

Department:

Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik

Institute:

ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik

Chair:

Groos, Gerhard

Open Access yes or no?:

Nein / No

BibTeX

Occurrences:

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