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Autoren:

Dubec, Viktor; Bychikhin, Sergey; Blaho, Matej; Heer, Michael; Pogany, Dionýz; Denison, Marie; Jensen, Nils; Stecher, Matthias; Groos, Gerhard; Gornik, Erich

Dokumenttyp:

Zeitschriftenartikel / Journal Article

Titel:

Multiple-time-instant 2D thermal mapping during a single ESD event

Zeitschrift:

Microelectronics Reliability

Jahrgang:

Heftnummer:

Jahr:

2004

Seiten von - bis:

1793-1798

Sprache:

Englisch

DOI:

10.1016/j.microrel.2004.07.087

URL zum Inhalt:

https://doi.org/10.1016/j.microrel.2004.07.087

Fakultät:

Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik

Institut:

ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik

Professur:

Groos, Gerhard

Open Access ja oder nein?:

Nein / No

BibTeX

Vorkommen:

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