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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Titel:
Thermal and free carrier laser interferometric mapping and failure analysis of anti-serial smart power ESD protection structures
Titel Konferenzpublikation:
European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF)
Untertitel Konferenzpublikation:
Bourdeaux, France; 01.11.2001 - 05.11.2001
Konferenztitel:
European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (2001, Bourdeaux)
Tagungsort:
Bourdeaux, France
Jahr der Konferenz:
2001
Datum Beginn der Konferenz:
01.11.2001
Datum Ende der Konferenz:
05.11.2001
Jahr:
2001
Sprache:
Englisch
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Professur:
Groos, Gerhard
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
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