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- Autorinnen/Autoren:
- Koch, Sebastian; Orr, Benjamin J.; Gossner, Harald; Gieser, Horst A.; Maurer, Linus
- Dokumenttyp:
- Zeitschriftenartikel / Journal Article
- Titel:
- Identification of Soft Failure Mechanisms Triggered by ESD Stress on a Powered USB 3.0 Interface
- Zeitschrift:
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
- Jahrgang:
- 61
- Heftnummer:
- 1
- Jahr:
- 2019
- Seitenbereich:
- 20 - 28
- Sprache:
- Englisch
- ISSN:
- 0018-9375 ; 1558-187X
- DOI:
- 10.1109/TEMC.2018.2811645
- URL zum Inhalt:
- https://doi.org/10.1109/TEMC.2018.2811645
- Fakultät:
- Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
- Institut:
- EIT 4 - Institut für Mikroelektronik und Schaltungstechnik
- Professorin/Professor:
- Maurer, Linus
- Open Access:
- Nein / No
- Sonstige Angaben:
- Date of Publication: 12 June 2018
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