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- Authors:
- Koch, Sebastian; Orr, Benjamin J.; Gossner, Harald; Gieser, Horst A.; Maurer, Linus
- Document type:
- Zeitschriftenartikel / Journal Article
- Title:
- Identification of Soft Failure Mechanisms Triggered by ESD Stress on a Powered USB 3.0 Interface
- Journal:
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
- Volume:
- 61
- Issue:
- 1
- Year:
- 2019
- Pages from - to:
- 20 - 28
- Language:
- Englisch
- ISSN:
- 0018-9375 ; 1558-187X
- DOI:
- 10.1109/TEMC.2018.2811645
- URL:
- https://doi.org/10.1109/TEMC.2018.2811645
- Department:
- Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
- Institute:
- EIT 4 - Institut für Mikroelektronik und Schaltungstechnik
- Chair:
- Maurer, Linus
- Open Access yes or no?:
- Nein / No
- Miscellaneous:
- Date of Publication: 12 June 2018
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