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Autorinnen/Autoren:
Fürböck, Christoph; Esmark, Kai; Litzenberger, Martin; Pogany, Dionýz; Groos, Gerhard; Zelsacher, R.; Stecher, M.; Gornik, Erich
Dokumenttyp:
Zeitschriftenartikel / Journal Article
Titel:
Thermal and free carrier concentration mapping during ESD event in smart power ESD protection devices using a modified laser interferometry technique
Zeitschrift:
Microelectronics and Reliability
Jahrgang:
40
Heftnummer:
8-10
Jahr:
2000
Seitenbereich:
1365-1370
Sprache:
Englisch
DOI:
10.1016/S0026-2714(00)00144-X
URL zum Inhalt:
https://doi.org/10.1016/S0026-2714(00)00144-X
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Professorin/Professor:
Groos, Gerhard
Open Access:
Nein / No
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