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Dokumenttyp:
Zeitschriftenartikel / Journal Article
Titel:
Thermal and free carrier laser interferometric mapping and failure analysis an "anti"-serially connected npn transistor ESD protection structure
Zeitschrift:
Microelectronics and Reliability
Jahrgang:
41
Heftnummer:
9-10
Jahr:
2001
Seiten von - bis:
1501-1506
Sprache:
Englisch
URL zum Inhalt:
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Professur:
Groos, Gerhard
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
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