Login
- Autorinnen/Autoren:
- Pogany, Dionýz; Dubec, Viktor; Bychikhin, Sergey; Fürböck, Christoph; Litzenberger, Martin; Groos, Gerhard; Stecher, Matthias; Gornik, Erich
- Dokumenttyp:
- Zeitschriftenartikel / Journal Article
- Titel:
- Single-shot thermal energy mapping of semiconductor devices with the nanosecond resolution using holographic interferometry
- Zeitschrift:
- IEEE Electron Device Letters
- Jahrgang:
- 23
- Heftnummer:
- 10
- Jahr:
- 2002
- Seitenbereich:
- 606-608
- Sprache:
- Englisch
- ISSN:
- 0741-3106 ; 1558-0563
- DOI:
- 10.1109/LED.2002.803752
- URL zum Inhalt:
- https://doi.org/10.1109/LED.2002.803752
- Fakultät:
- Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
- Institut:
- ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
- Professorin/Professor:
- Groos, Gerhard
- Open Access:
- Nein / No
BibTeX