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- Authors:
- Pogany, Dionýz; Bychikhin, Sergey; Fürböck, Christoph; Litzenberger, Martin; Gornik, Erich; Groos, Gerhard; Esmark, Kai; Stecher, Matthias
- Document type:
- Zeitschriftenartikel / Journal Article
- Title:
- Quantitative internal thermal energy mapping of semiconductor devices under short current stress using backside laser interferometry
- Journal:
- IEEE Transactions on Electron Devices
- Volume:
- 49
- Issue:
- 11
- Year:
- 2002
- Pages from - to:
- 2070-2079
- Language:
- Englisch
- ISSN:
- 0018-9383 ; 1557-9646
- DOI:
- 10.1109/TED.2002.804724
- URL:
- https://doi.org/10.1109/TED.2002.804724
- Department:
- Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
- Institute:
- ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
- Chair:
- Groos, Gerhard
- Open Access yes or no?:
- Nein / No
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