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- Autorinnen/Autoren:
- Pogany, Dionýz; Dubec, Viktor; Bychikhin, Sergey; Fürböck, Christoph; Litzenberger, Martin; Naumov, S.; Groos, Gerhard; Stecher, Matthias; Gornik, Erich
- Dokumenttyp:
- Zeitschriftenartikel / Journal Article
- Titel:
- Single-shot nanosecond thermal imaging of semiconductor devices using absorption measurements
- Zeitschrift:
- IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
- Jahrgang:
- 3
- Heftnummer:
- 3
- Jahr:
- 2003
- Seitenbereich:
- 85-88
- Sprache:
- Englisch
- ISSN:
- 1530-4388 ; 1558-2574
- DOI:
- 10.1109/TDMR.2003.815276
- URL zum Inhalt:
- https://doi.org/10.1109/TDMR.2003.815276
- Fakultät:
- Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
- Institut:
- ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
- Professorin/Professor:
- Groos, Gerhard
- Open Access:
- Nein / No
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