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- Authors:
- Pogany, Dionýz; Dubec, Viktor; Bychikhin, Sergey; Fürböck, Christoph; Litzenberger, Martin; Naumov, S.; Groos, Gerhard; Stecher, Matthias; Gornik, Erich
- Document type:
- Zeitschriftenartikel / Journal Article
- Title:
- Single-shot nanosecond thermal imaging of semiconductor devices using absorption measurements
- Journal:
- IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
- Volume:
- 3
- Issue:
- 3
- Year:
- 2003
- Pages from - to:
- 85-88
- Language:
- Englisch
- ISSN:
- 1530-4388 ; 1558-2574
- DOI:
- 10.1109/TDMR.2003.815276
- URL:
- https://doi.org/10.1109/TDMR.2003.815276
- Department:
- Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
- Institute:
- ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
- Chair:
- Groos, Gerhard
- Open Access yes or no?:
- Nein / No
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