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- Authors:
- Reggiani, Susanna; Gnani, Elena; Rudan, Massimo; Baccarani, Giogio; Corvasce, Chiara; Barlini, Davide; Ciappa, Mauro; Fichtner, Wolfgang; Denison, Marie; Jensen, Nils; Groos, Gerhard; Stecher, Matthias
- Document type:
- Zeitschriftenartikel / Journal Article
- Title:
- Measurement and Modeling of the Electron Impact-Ionization Coefficient in Silicon Up to Very High Temperatures
- Journal:
- IEEE Transactions on Electron Devices
- Volume:
- 52
- Issue:
- 10
- Year:
- 2005
- Pages from - to:
- 2290-2299
- Language:
- Englisch
- ISSN:
- 0018-9383 ; 1557-9646
- DOI:
- 10.1109/TED.2005.856807
- URL:
- https://doi.org/10.1109/TED.2005.856807
- Department:
- Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
- Institute:
- ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
- Chair:
- Groos, Gerhard
- Open Access yes or no?:
- Nein / No
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