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- Authors:
- Heer, Michael; Dubec, Viktor; Blaho, Matej; Bychikhin, Sergey; Pogany, Dionýz; Gornik, Erich; Denison, Marie; Stecher, Matthias; Groos, Gerhard
- Document type:
- Zeitschriftenartikel / Journal Article
- Title:
- Automated setup for thermal imaging and electrical degradation study of power DMOS devices
- Journal:
- Microelectronics Reliability
- Volume:
- 45
- Issue:
- 9-11
- Year:
- 2005
- Pages from - to:
- 1688-1693
- Language:
- Englisch
- DOI:
- 10.1016/j.microrel.2005.07.082
- URL:
- https://doi.org/10.1016/j.microrel.2005.07.082
- Department:
- Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
- Institute:
- ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
- Chair:
- Groos, Gerhard
- Open Access yes or no?:
- Nein / No
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