Login
Document type:
Zeitschriftenartikel / Journal Article
Title:
Automated setup for thermal imaging and electrical degradation study of power DMOS devices
Journal:
Microelectronics Reliability
Volume:
45
Issue:
9-11
Year:
2005
Pages from - to:
1688-1693
Language:
Englisch
Department:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institute:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Chair:
Groos, Gerhard
Open Access yes or no?:
Nein / No
BibTeX