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- Autorinnen/Autoren:
- Groos, Gerhard
- Dokumenttyp:
- Zeitschriftenartikel / Journal Article
- Titel:
- Characterisation method for chip card ESD events causing terminal failures
- Zeitschrift:
- Microelectronics Reliability
- Jahrgang:
- 52
- Heftnummer:
- 9-10
- Jahr:
- 2012
- Seitenbereich:
- 2005-2009
- Sprache:
- Englisch
- DOI:
- 10.1016/j.microrel.2012.06.072
- URL zum Inhalt:
- https://doi.org/10.1016/j.microrel.2012.06.072
- Fakultät:
- Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
- Institut:
- ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
- Professorin/Professor:
- Groos, Gerhard
- Open Access:
- Nein / No
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