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Document type:
Zeitschriftenartikel / Journal Article
Title:
Characterisation method for chip card ESD events causing terminal failures
Journal:
Microelectronics Reliability
Volume:
52
Issue:
9-10
Year:
2012
Pages from - to:
2005-2009
Language:
Englisch
Department:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institute:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Chair:
Groos, Gerhard
Open Access yes or no?:
Nein / No
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