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- Autorinnen/Autoren:
- Esmark, Kai; Fürböck, Christoph; Gossner, Harald; Groos, Gerhard; Litzenberger, Martin; Pogany, Dionýz; Zelsacher, R.; Stecher, Matthias; Gornik, Erich
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag / Conference Paper
- Titel:
- Simulation and experimental study of temperature distribution during ESD stress in smart-power technology ESD protection structures
- Titel Konferenzpublikation:
- 38th Annual 2000 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings
- Konferenztitel:
- Annual IEEE International Reliability Physics Symposium (38., 2000, San Jose, CA)
- Konferenztitel:
- IRPS 2000
- Tagungsort:
- San Jose, CA
- Jahr der Konferenz:
- 2000
- Datum Beginn der Konferenz:
- 10.04.2000
- Datum Ende der Konferenz:
- 13.04.2000
- Verlag:
- IEEE
- Jahr:
- 2000
- Seitenbereich:
- 304 – 309
- Sprache:
- Englisch
- ISBN:
- 0-7803-5860-0
- DOI:
- 10.1109/RELPHY.2000.843931
- URL zum Inhalt:
- https://doi.org/10.1109/RELPHY.2000.843931
- Fakultät:
- Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
- Institut:
- ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
- Professorin/Professor:
- Groos, Gerhard
- Open Access:
- Nein / No
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