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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Titel:
Simulation and experimental study of temperature distribution during ESD stress in smart-power technology ESD protection structures
Titel Konferenzpublikation:
38th Annual 2000 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings
Konferenztitel:
Annual IEEE International Reliability Physics Symposium (38., 2000, San Jose, CA)
Konferenztitel:
IRPS 2000
Tagungsort:
San Jose, CA
Jahr der Konferenz:
2000
Datum Beginn der Konferenz:
10.04.2000
Datum Ende der Konferenz:
13.04.2000
Verlag:
IEEE
Jahr:
2000
Seiten von - bis:
304 – 309
Sprache:
Englisch
ISBN:
0-7803-5860-0
URL zum Inhalt:
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Professur:
Groos, Gerhard
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
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