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- Autorinnen/Autoren:
- Bychikhin, Sergey; Litzenberger, Martin; Pichler, Rudolf; Pogany, Dionýz; Gornik, Erich; Groos, Gerhard; Stecher, Matthias
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag / Conference Paper
- Titel:
- Thermal and free carrier laser interferometric mapping and failure analysis of anti-serial smart power ESD protection structures
- Titel Konferenzpublikation:
- European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF)
- Untertitel Konferenzpublikation:
- Bourdeaux, France; 01.11.2001 - 05.11.2001
- Konferenztitel:
- European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (2001, Bourdeaux)
- Tagungsort:
- Bourdeaux, France
- Jahr der Konferenz:
- 2001
- Datum Beginn der Konferenz:
- 01.11.2001
- Datum Ende der Konferenz:
- 05.11.2001
- Jahr:
- 2001
- Sprache:
- Englisch
- Fakultät:
- Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
- Institut:
- ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
- Professorin/Professor:
- Groos, Gerhard
- Open Access:
- Nein / No
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