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- Autorinnen/Autoren:
- Blaho, Matej; Pogany, Dionýz; Gornik, Erich; Denison, Marie; Groos, Gerhard; Stecher, Matthias
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag / Conference Paper
- Titel:
- Investigation of the internal behavior of a vertical DMOS transistor under short duration, high current stress by an optical thermal mapping method
- Titel Konferenzpublikation:
- Proceedings of the 6th International Seminar on Power Semiconductors (ISPS), Prague 2002
- Konferenztitel:
- International Seminar on Power Semiconductors (6., 2002, Prag)
- Tagungsort:
- Prague, Czech Republic
- Jahr der Konferenz:
- 2002
- Datum Beginn der Konferenz:
- 02.09.2002
- Datum Ende der Konferenz:
- 04.09.2002
- Jahr:
- 2002
- Seitenbereich:
- 63-67
- Sprache:
- Englisch
- Fakultät:
- Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
- Institut:
- ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
- Professorin/Professor:
- Groos, Gerhard
- Open Access:
- Nein / No
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