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- Autorinnen/Autoren:
- Dubec, Viktor; Bychikhin, Sergey; Blaho, Matej; Heer, Michael; Pogany, Dionýz; Gornik, Erich; Denison, Marie; Jensen, Nils; Stecher, Matthias; Groos, Gerhard
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag / Conference Paper
- Titel:
- Multiple-time-instant 2D thermal mapping during a single ESD event
- Konferenztitel:
- European Symposium Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (15., 2004, Zürich)
- Konferenztitel:
- ESREF04
- Tagungsort:
- Zürich
- Jahr der Konferenz:
- 2004
- Datum Beginn der Konferenz:
- 04.10.2004
- Datum Ende der Konferenz:
- 08.10.2004
- Jahr:
- 2004
- Sprache:
- Englisch
- Fakultät:
- Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
- Institut:
- ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
- Professorin/Professor:
- Groos, Gerhard
- Open Access:
- Nein / No
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