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- Autorinnen/Autoren:
- Heer, Michael; Dubec, Viktor; Blaho, Matej; Bychikhin, Sergey; Pogany, Dionýz; Gornik, Erich; Denison, Marie; Stecher, Matthias; Groos, Gerhard
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag / Conference Paper
- Titel:
- Automated setup for thermal imaging and electrical degradation study of power DMOS devices
- Titel Konferenzpublikation:
- European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF)
- Untertitel Konferenzpublikation:
- Arcachon France: 10.10.2005 - 14.10.2005
- Konferenztitel:
- European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (2005, Arcachon)
- Tagungsort:
- Arcachon, France
- Jahr der Konferenz:
- 2005
- Datum Beginn der Konferenz:
- 10.10.2005
- Datum Ende der Konferenz:
- 14.10.2005
- Jahr:
- 2005
- Sprache:
- Englisch
- Fakultät:
- Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
- Institut:
- ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
- Professorin/Professor:
- Groos, Gerhard
- Open Access:
- Nein / No
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