Login
- Autorinnen/Autoren:
- Morgenstern, Haiko; Groos, Gerhard; Köhne, Heiko; Stecher, Matthias; John, Werner; Reichl, Herbert
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag / Conference Paper
- Titel:
- Chip-Level Verification of Complex Mixed-Signal ICs regarding ESD-Stress
- Titel Konferenzpublikation:
- 5th International Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC COMPO)
- Untertitel Konferenzpublikation:
- München, 28.-30.11. 2005
- Konferenztitel:
- International Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (5., 2005, München)
- Tagungsort:
- München
- Jahr der Konferenz:
- 2005
- Datum Beginn der Konferenz:
- 28.11.2005
- Datum Ende der Konferenz:
- 30.11.2005
- Jahr:
- 2005
- Sprache:
- Englisch
- Fakultät:
- Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
- Institut:
- ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
- Professorin/Professor:
- Groos, Gerhard
- Open Access:
- Nein / No
BibTeX