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Autorinnen/Autoren:
Rudan, Masssimo; Reggiani, Susanna; Gnani, Elena; Baccarani, Giorgio; Corvasce, Chiara; Barlini, Davide; Ciappa, Mauro; Fichtner, Wolfgang; Denison, Marie; Jensen, Nils; Groos, Gerhard; Stecher, Matthias
Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Titel:
Experimental validation of a new analytical model for the position-dependent Hall voltage in semiconductor devices
Titel Konferenzpublikation:
Proceedings of 35th European Solid-State Device Research Conference, 2005
Untertitel Konferenzpublikation:
ESSDERC 2005
Konferenztitel:
European Solid-State Device Research Conference (35., 2005, Grenoble)
Konferenztitel:
35th ESSDERC
Tagungsort:
Grenoble, France
Jahr der Konferenz:
2005
Datum Beginn der Konferenz:
16.09.2005
Verlagsort:
Piscataway
Verlag:
IEEE
Jahr:
2005
Seitenbereich:
565-568
Sprache:
Englisch
ISBN:
0-7803-9203-5
ISSN:
1930-8876 ; 2378-6558
DOI:
10.1109/ESSDER.2005.1546711
URL zum Inhalt:
https://doi.org/10.1109/ESSDER.2005.1546711
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Professorin/Professor:
Groos, Gerhard
Open Access:
Nein / No
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