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Authors:
Groos, Gerhard
Document type:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Title:
Charakterisierung des Entladeverhaltens von Single- und Dual-Interface Chipkarten
Title of conference publication:
Tagungsband 12. ESD Forum 2011
Subtitle of conference publication:
München 6./7.12.2011
Conference title:
Electro Static Discharge Forum (12., 2011, München)
Venue:
München
Year of conference:
2011
Date of conference beginning:
06.12.2011
Date of conference ending:
07.12.2011
Year:
2011
Pages from - to:
53-58
Language:
Deutsch
Department:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institute:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Chair:
Groos, Gerhard
Open Access yes or no?:
Nein / No
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