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- Autorinnen/Autoren:
- Helmut, Dennis; Wachutka, Gerhard K. M.; Groos, Gerhard
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag / Conference Paper
- Titel:
- Transient analysis of latent damage formation in SMD capacitors by Transmission Line Pulsing (TLP)
- Titel Konferenzpublikation:
- 28th European Symposium on Reliability of Electronic Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF)
- Untertitel Konferenzpublikation:
- Bordeaux, 25.-28.9.2017
- Konferenztitel:
- European Symposium on Reliability of Electronic Devices, Failure Physics and Analysis (28., 2017, Bordeaux)
- Tagungsort:
- Bordeaux
- Jahr der Konferenz:
- 2017
- Datum Beginn der Konferenz:
- 25.09.2017
- Datum Ende der Konferenz:
- 28.09.2017
- Jahr:
- 2017
- Sprache:
- Englisch
- Fakultät:
- Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
- Institut:
- ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
- Professorin/Professor:
- Groos, Gerhard
- Open Access:
- Nein / No
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