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- Autorinnen/Autoren:
- Ammer, Michael; Esmark, Kai; zur Nieden, Friedrich; Rupp, Andreas; Cao, Yiqun; Sauter, Martin; Maurer, Linus
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag / Conference Paper
- Titel:
- Simulation of System Level ESD robustness using advanced behavioral IC models under consideration of PCB parasitics
- Konferenztitel:
- Electro Static Discharge Forum (15., 2017, München)
- Konferenztitel:
- 15. ESD-Forum, München, 25. Oktober 2017
- Tagungsort:
- München
- Jahr der Konferenz:
- 2017
- Datum Beginn der Konferenz:
- 23.10.2017
- Datum Ende der Konferenz:
- 25.10.2017
- Jahr:
- 2017
- Sprache:
- Englisch
- Fakultät:
- Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
- Institut:
- ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
- Professorin/Professor:
- Sauter, Martin
- Open Access:
- Nein / No
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