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- Authors:
- Ammer, Michael; Esmark, Kai; zur Nieden, Friedrich; Rupp, Andreas; Cao, Yiqun; Sauter, Martin; Maurer, Linus
- Document type:
- Konferenzbeitrag / Conference Paper
- Title:
- Simulation of System Level ESD robustness using advanced behavioral IC models under consideration of PCB parasitics
- Conference title:
- Electro Static Discharge Forum (15., 2017, München)
- Conference title:
- 15. ESD-Forum, München, 25. Oktober 2017
- Venue:
- München
- Year of conference:
- 2017
- Date of conference beginning:
- 23.10.2017
- Date of conference ending:
- 25.10.2017
- Year:
- 2017
- Language:
- Englisch
- Department:
- Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
- Institute:
- ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
- Chair:
- Sauter, Martin
- Open Access yes or no?:
- Nein / No
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