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- Authors:
- Sauter, Martin; Simbürger, Werner; Johnsson, David; Stecher, Matthias
- Document type:
- Zeitschriftenartikel / Journal Article
- Title:
- On-wafer measurement of the reverse-recovery time of integrated diodes by Transmission-Line-Pulsing (TLP)
- Journal:
- Microelectronics Reliability
- Volume:
- 51
- Issue:
- 8
- Year:
- 2011
- Pages from - to:
- 1309-1314
- Language:
- Englisch
- DOI:
- 10.1016/j.microrel.2011.02.012
- URL:
- https://doi.org/10.1016/j.microrel.2011.02.012
- Department:
- Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
- Institute:
- ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
- Chair:
- Sauter, Martin
- Open Access yes or no?:
- Nein / No
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