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- Autorinnen/Autoren:
- Sauter, Martin; Willemen, Joost
- Dokumenttyp:
- Zeitschriftenartikel / Journal Article
- Titel:
- Simulation and modelling of VDMOSFET self protection under TLP-stress
- Zeitschrift:
- Microelectronics Reliability
- Jahrgang:
- 50
- Heftnummer:
- 2
- Jahr:
- 2010
- Seitenbereich:
- 183-189
- Sprache:
- Englisch
- DOI:
- 10.1016/j.microrel.2009.10.007
- URL zum Inhalt:
- https://doi.org/10.1016/j.microrel.2009.10.007
- Fakultät:
- Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
- Institut:
- ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
- Professorin/Professor:
- Sauter, Martin
- Open Access:
- Nein / No
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