- Dokumenttyp:
- Patent
- Patentnummer:
- DE000019835266A1
- Erfinder:
- Sauter, Martin
- Patentanmelder:
- Siemens AG, 80333 München, DE
- Titel:
- Verfahren zur Erfassung der Betriebstemperatur von Halbleiterbauelementen
- Paralleltitel:
- Operating temperature determining method for semiconductor components e.g. DMOS transistors
- Anmeldeland:
- Deutschland
- Anmeldenummer:
- 19835266
- Datum der Patentanmeldung:
- 04.08.1998
- Veröffentlichungsdatum:
- 17.02.2000
- Jahr:
- 1998
- Seiten:
- 6
- Sprache:
- Deutsch; Englisch
- IPC-Hauptklasse:
- H01L 23/62
- URL zum Volltext:
- https://register.dpma.de/DPMAregister/pat/register?AKZ=198352662
- Fakultät:
- Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
- Institut:
- ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
- Professur:
- Sauter, Martin
- Sonstige Angaben:
- Verfahren zur Erfassung der Betriebstemperatur von Halbleiterbauelementen und dessen Verwendung
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