- Document type:
- Patent
- Patent number:
- DE000019835266A1
- Inventor:
- Sauter, Martin
- Patent applicant:
- Siemens AG, 80333 München, DE
- Title:
- Verfahren zur Erfassung der Betriebstemperatur von Halbleiterbauelementen
- Parallel title:
- Operating temperature determining method for semiconductor components e.g. DMOS transistors
- Country of patent application:
- Deutschland
- Application number:
- 19835266
- Date of patent application:
- 04.08.1998
- Date of publication:
- 17.02.2000
- Year:
- 1998
- Pages:
- 6
- Language:
- Deutsch; Englisch
- IPC main class:
- H01L 23/62
- Full text URL:
- https://register.dpma.de/DPMAregister/pat/register?AKZ=198352662
- Department:
- Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
- Institute:
- ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
- Chair:
- Sauter, Martin
- Miscellaneous:
- Verfahren zur Erfassung der Betriebstemperatur von Halbleiterbauelementen und dessen Verwendung
Login
