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- Autorinnen/Autoren:
- Russ, Christian C.; Ammer, Michael; Esmark, Kai
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag / Conference Paper
- Titel:
- Predicting system level ESD robustness using a comprehensive modelling approach
- Titel Konferenzpublikation:
- Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium Proceedings
- Konferenztitel:
- Annual Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (40., 2018, Reno)
- Tagungsort:
- Reno
- Jahr der Konferenz:
- 2018
- Datum Beginn der Konferenz:
- 23.09.2018
- Datum Ende der Konferenz:
- 28.09.2018
- Jahr:
- 2018
- Sprache:
- Englisch
- ISBN:
- 1585373028
- Fakultät:
- Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
- Institut:
- EIT 4 - Institut für Mikroelektronik und Schaltungstechnik
- Professorin/Professor:
- Maurer, Linus
- Open Access:
- Nein / No
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